A. 基本資料 (Basic Information)

電話：03-5186072

辦公室：綜合一館 M536室

E-mail：horacechen@g.chu.edu.tw

B. 學經歷 (Education & Experience)

  * 學歷 (Education)

• 國立交通大學 機械工程學系 博士 (2018)
• 國立清華大學 資訊工程系資應所 博士候選人 (2023)
• 國立交通大學 平面顯示技術學位學程 碩士 (2013)
• Preston University, MBA (2003)
• 國立雲林科技大學 工業工程與管理系 學士 (1995)
• 萬能科技大學 電子工程, 資訊工程 學士 (2008, 2021)

  * 經歷 (Experience)

• 資深技術顧問, 美商太克科技 (Tektronix), 美商吉時利儀器 (Keithley), 2008 - 2024
• 資工系兼任助理教授, 元智大學, 萬能科技大學, 龍華科技大學, 2021 - 2024
• 應用工程部經理, 美商烽騰科技 (Photon Dynamics), 2001 - 2004
• 資深製程整合與WAT工程師, 世界先進積體電路 (Vanguard International Semiconductor), 1997 - 2001

C. 專長 (Expertise)

• 電資領域: 電子資訊工程、人工智慧應用、軟體工程、程式設計
• 工程領域: 自動控制工程、半導體工程、工業工程

D. 研究及著作 (Research)

Peer Reviewed Journal Papers

1. Szu-Hao Chen, Po-Chien Chou, and Stone Cheng, “Channel Temperature Measurement in Hermetic Packaged GaN HEMTs Power Switch Using Fast Static and Transient Thermal Methods,” J Therm Anal Calorim. , vol. 129: 1159-1168, 2017 (SCI Ranking: Q2, 22/58 = 37.9%, Thermodynamic, IF: 1.781)

2. Po-Chien. Chou, Szu-Hao Chen, Ting-En Hsieh, Stone Cheng, Jesús A. del Alamo and Edward Yi Chang, “Evaluation and Reliability Assessment of GaN-on-Si MIS-HEMT for Power Switching Applications,” Energies, 10(2), 233, 2017 (SCI Ranking: Q2, 43/88 = 48.9%, Energy & Fuels, IF: 2.077)

3. Szu-Hao Chen, Po-Chien Chou, and Stone Cheng, “Evaluation of Thermal Performance of Packaged GaN HEMT Cascode Power Switch by Transient Thermal Testing,” Applied Thermal Engineering, vol. 98, no. 1, pp. 1003–1012, 2016. (SCI Ranking: Q1, 7/135 = 5.1%, Mechanics, IF: 3.043)

4. Po-Chien. Chou, Stone Cheng, and Szu-Hao Chen, “Evaluation of thermal performance of all-GaN power module in parallel operation,” Applied Thermal Engineering, vol. 70, no. 1, pp. 593–599, 2014. (SCI Ranking: Q1, 8/139 = 5.7%, Mechanics, IF: 2.6240)
 

Conference Papers

1. J.-M. Zhang, T.-E. Hsieh, T.-L. Wu, S.-H. Chen, S.-X. Chen, P.-C. Chou, and E. Y. Chang, "Bias- and temperature-assisted trapping/de-trapping of ron degradation in D-mode AlGaN/GaN MIS-HEMTs on a Si substrate," in Proc. IEEE Int. Electron Devices Meeting (IEDM), 2017, pp. 27.5.1-27.5.4. doi: 10.1109/IEDM.2017.8060181.

2. 陳思豪, 一種特殊驅動方法用於提升TFT-LCD陣列基板之横向畫素短路缺陷檢測能力, 2007電資科技應用與發展學術研討會, 萬能科技大學, 11月16日, 頁259-264